鎧裝熱電阻可用于具有爆炸危險場所的溫度測量。熱電阻的測溫原理與熱電偶的測溫原理不同的是，熱電阻是基于電阻鎧裝熱電阻的發(fā)展，在很大程度上取決于其核心部件，鉑熱電阻部件的發(fā)展。從傳統(tǒng)的云母鉑熱電阻部件、
陶瓷鉑熱電阻部件、玻璃鉑熱電阻部件到厚膜鉑熱電阻部件和薄膜鉑熱電阻部件，鉑熱電阻部件的發(fā)展方向已轉(zhuǎn)移到膜式結構的產(chǎn)品上，尤其是薄膜鉑熱電阻部件。
從1974年引入薄膜技術研發(fā)薄膜鉑熱電阻部件，成功解決鉑熱電阻部件的成本及應用問題起，至今已有30多年的歷史，隨著照相平板印刷技術的日益發(fā)展，薄膜鉑熱電阻部件近幾年的發(fā)展突飛猛進。
熱效應進行溫度測量的，即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此，只要測量出感溫熱電阻的阻值變化，就可以測量出溫度鎧裝熱電阻通過特殊結構的接線盒，裝配式熱電偶把其外殼內(nèi)部爆炸性混合氣體因受到火花或電弧等影響而發(fā)生的爆炸局限在接線盒內(nèi)，生產(chǎn)現(xiàn)場不會引超爆炸。